PCB ICT/FCT 测试，为什么工程师首选 INGUN 探针

PCB 量产测试中，探针是治具最核心的触点部件，接触不稳、频繁卡针，直接造成产线误判、停机损耗。德国 INGUN 弹簧测试探针凭借数十年精密制造积累，成为 ICT 在线测试、FCT 功能测试的主流选择。INGUN GKS 系列探针采用全镀金针体，接触电阻低且稳定，百万次...

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探针接触电阻越来越大、测试误判多？先查这三处

探针是耗材，接触变差通常有三个原因：第一，针尖磨损 —— 每压一次都在磨，针尖钝了就刺不破氧化层，电阻随之上升；第二，污染 —— 助焊剂残留、锡渣、灰尘卡在针尖和焊盘之间，形成隔离层，接触电阻忽高忽低；第三，弹力衰减 —— 弹簧疲劳后弹力不足，压...

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测试探针怎么选？记住这 5 个参数

选探针别只看价格，先过这五关：

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INGUN探针卡顿、回弹失效？

量产治具里 INGUN 探针故障，大多不是弹簧断裂，而是助焊剂残留、粉尘、油脂堆积造成卡针、回弹不畅、接触电阻漂移，很多工程师等到大批量误测才更换探针。建立标准化维护流程可以显著延长探针寿命。日常保养优先用无水酒精清洁针尖与针套，清除助焊剂残渣，...

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动态测试怕损坏产品？INGUN 弹性探针实现压力自适应调节

按键寿命、振动环境等动态测试过程中，被测元器件极易因探针压力过大发生压伤、形变，造成样品报废，给可靠性验证带来不小难题，INGUN 弹性测试探针成为动态工况下的理想测试方案。在振动、往复按压等动态测试场景，治具公差、器件形变都会带来接触压力波动，...

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半导体测试想提升良率？INGUN 探针是核心帮手

晶圆、芯片电学性能检测怕磨损？在半导体产线测试环节，探针的接触稳定性、耐磨性能，直接左右测试准确率与产品良率，INGUN 德国精密测试探针，成为晶圆与芯片电学检测的关键利器。半导体测试过程中，针尖磨损、接触不稳、阻值漂移，极易引发误判、漏测，造成...

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