动态测试怕损坏产品？INGUN 弹性探针实现压力自适应调节

按键寿命、振动环境等动态测试过程中，被测元器件极易因探针压力过大发生压伤、形变，造成样品报废，给可靠性验证带来不小难题，INGUN 弹性测试探针成为动态工况下的理想测试方案。

在振动、往复按压等动态测试场景，治具公差、器件形变都会带来接触压力波动，普通探针压力不可调，压力过大易压坏测试件，压力不足又会出现虚接、信号跳变，测试数据失真。INGUN 探针拥有丰富弹簧力选型，支持弹性系数按需定制，可自适应调节接触压力，在行程范围内缓冲震动冲击，避免器件承受过载压力，减少产品压损风险。

探针内部精密弹簧经过严苛耐久验证，数十万次往复测试弹力依旧稳定，接触电阻波动小，保障动态工况下电流、电压信号持续稳定输出。多样针头样式可适配 PCB、按键、各类精密元器件，兼顾保护被测表面与电气导通性能。

有效降低测试过程样品损耗，保障按键寿命、振动可靠性等项目的数据真实有效，助力企业高效完成元器件可靠性验证，提升测试综合效益。

《深圳市永佳信电子有限公司》作为德国INGUN中国总代理，全球优秀代理商，勇居全球代理商销量第二名，二十几年来，我们只专注于销售原装正品，在中国地区广受好评！

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