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探针接触电阻越来越大、测试误判多?先查这三处

探针接触电阻越来越大、测试误判多?先查这三处

探针是耗材,接触变差通常有三个原因:第一,针尖磨损 —— 每压一次都在磨,针尖钝了就刺不破氧化层,电阻随之上升;第二,污染 —— 助焊剂残留、锡渣、灰尘卡在针尖和焊盘之间,形成隔离层,接触电阻忽高忽低;第三,弹力衰减 —— 弹簧疲劳后弹力不足,压...

ingun 英冈 测试探针 弹簧探针 2026-09-21 0
测试探针怎么选?记住这 5 个参数

测试探针怎么选?记住这 5 个参数

选探针别只看价格,先过这五关:

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INGUN探针卡顿、回弹失效?

INGUN探针卡顿、回弹失效?

量产治具里 INGUN 探针故障,大多不是弹簧断裂,而是助焊剂残留、粉尘、油脂堆积造成卡针、回弹不畅、接触电阻漂移,很多工程师等到大批量误测才更换探针。建立标准化维护流程可以显著延长探针寿命。日常保养优先用无水酒精清洁针尖与针套,清除助焊剂残渣,...

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动态测试怕损坏产品?INGUN 弹性探针实现压力自适应调节

动态测试怕损坏产品?INGUN 弹性探针实现压力自适应调节

按键寿命、振动环境等动态测试过程中,被测元器件极易因探针压力过大发生压伤、形变,造成样品报废,给可靠性验证带来不小难题,INGUN 弹性测试探针成为动态工况下的理想测试方案。在振动、往复按压等动态测试场景,治具公差、器件形变都会带来接触压力波动,...

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半导体测试想提升良率?INGUN 探针是核心帮手

半导体测试想提升良率?INGUN 探针是核心帮手

晶圆、芯片电学性能检测怕磨损?在半导体产线测试环节,探针的接触稳定性、耐磨性能,直接左右测试准确率与产品良率,INGUN 德国精密测试探针,成为晶圆与芯片电学检测的关键利器。半导体测试过程中,针尖磨损、接触不稳、阻值漂移,极易引发误判、漏测,造成...

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测试探针检查与紧固连接

测试探针检查与紧固连接

**插头与插孔检查**:仔细检查探针插头和测试仪器的插孔是否松动、变形或有异物堵塞。若插头松动,应将其拔出后重新插入,确保连接紧密;若有变形,可能需要更换插头或修复插孔;如有异物,及时清除。 **接触点紧固**:检查探针的接触点是否松动,如有松动,...

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