GKS系列探针使用寿命影响因素简析

GKS系列探针广泛应用于各类电子产品导通检测，探针使用寿命直接决定测试良率与生产耗材成本，使用工况中的多项条件都会大幅损耗探针耐久度。

影响探针使用寿命的关键因素主要有三点。第一是行程过压，测试压合时若压缩量超过探针标准行程，内部弹簧持续承受超负荷压力，弹性会快速疲劳失效，回弹力度下降，直接缩短探针使用次数。第二是侧面外力介入，工装对位偏移、产品摆放歪斜产生侧向力，会刮擦针头、磨损针管内壁，造成针头变形、接触不稳定。第三是测试电流超标，通过电流大于额定值时，探针接触点持续发热，表面镀层氧化发黑，阻抗异常升高，加快探针报废。

日常生产中规范压合行程、定期校准治具消除侧力、严格把控测试通电电流，可有效延缓探针损耗，延长GKS探针使用寿命，减少频繁换针带来的停机损耗。

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