高密度测试治具方案｜INGUN S-Line 无针套探针，解决小栅距痛点

随着 PCB、Mini LED 与先进封装产品不断小型化，测试点栅距持续缩小，传统带针套探针空间不足，成为治具设计一大难点。INGUN S-Line 无针套探针，省去传统针套结构，在相同栅距下可选用更大直径探针。

取消针套带来多重优势：探针机械刚性提升，触针稳定性更好，信号重复度高；最小支持 031 密耳栅格，适配高密度点位布局，给治具工程师更大设计余量。S-Line 配套专用接触端点，压入端点板即可装配，安装结构标准化。

该系列提供标准行程、长行程版本，多种针头与弹簧力可选，支持两级触探设计，保护脆弱焊盘。相比传统探针，S-Line 在微间距场景下减少滑针、虚接问题，兼顾精度与寿命。在高密度 FCT、半导体封装测试治具中应用广泛，有效解决狭小空间测试难题，平衡治具加工难度与长期测试稳定性。

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