高频信号测试，选 INGUN 高频探针保障信号完整性

速射频测试中，寄生参数过大、阻抗不匹配极易造成信号反射、衰减失真，直接导致测试结果失效。INGUN 高频探针凭借低电容、低电感精密同轴设计，实现精准 50Ω 阻抗匹配，成为射频电路与高速接口测试的优选方案。

普通探针在高频工况下，寄生电容与电感会干扰信号传输，面对 PCIe、USB3.0 以上、HDMI 这类高速差分信号，容易出现波形畸变、数据误判。INGUN 高频探针通过优化同轴内部结构，严控寄生参数，减少信号损耗与反射，保证高频信号传输的完整性与可重复性。

探针兼顾电气性能与机械可靠性，多次往复触探依旧维持稳定阻抗，适配射频电路板、高速接口模块的批量产线检测。丰富规格选型，可满足不同频率、测试点位的使用需求，既能完成射频电路性能校验，也可用于各类高速数字接口的功能与一致性测试。

有效规避因探针带来的测试误差，减少误测误判，提升高速电子产品的测试精度与良率，为射频与高速信号可靠性验证提供坚实保障。

《深圳市永佳信电子有限公司》作为德国INGUN中国总代理，全球优秀代理商，勇居全球代理商销量第二名，二十几年来，我们只专注于销售原装正品，在中国地区广受好评！

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